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圖像法納米粒度分析儀的優(yōu)越結(jié)構(gòu),提高了粒度測量準確性,今天所介紹的圖像法納米粒度分析儀,結(jié)構(gòu)上包括了漏砂斗、震動器、導砂槽、風機、落紗檢測管和粒度檢測儀,導砂槽為上部開口的槽狀體,槽狀體的左端一側(cè)封閉,右端部開口,震動器與槽狀體的左端一側(cè)連接,漏砂斗固定于導砂槽的正上方,且位于導砂槽的左側(cè),導砂槽右端開口一側(cè)正下方固定有落紗檢測管,粒度檢測儀固定在落紗檢測管的側(cè)壁上,用于檢測從導砂槽震落下來的砂粒的狀態(tài);在落紗檢測管正上方設(shè)置有一風機,用于對從導砂槽落下的砂粒進行加速。結(jié)構(gòu)簡單,檢測的砂粒準確,同時從出砂槽中落下的砂粒間距均勻,鑄造砂經(jīng)過煅燒出爐后,在制作砂芯時,需要對篩選后的砂粒的粒度進行檢測,以防影響后續(xù)使用,但是目前在檢測砂粒粒度時,由于出砂槽的下料速度過快,導致砂粒在經(jīng)過檢測儀時,在同一水平面上會有好幾個甚至更多的砂粒重合,導致檢測數(shù)據(jù)不準確。給后續(xù)生產(chǎn)帶來嚴重的損失。耐克特的圖像法納米粒度分析儀,結(jié)構(gòu)簡單,檢測的砂粒準確,同時從出砂槽中落下的砂粒間距均勻。
耐克特設(shè)備儀器采用的技術(shù)方案:圖像法納米粒度分析儀,它包括漏砂斗、震動器、導砂槽、風機、落紗檢測管和粒度檢測儀,導砂槽為上部開口的槽狀體,槽狀體的左端一側(cè)封閉,右端部開口,震動器與槽狀體的左端一側(cè)連接,漏砂斗固定于導砂槽的正上方,且位于導砂槽的左側(cè),導砂槽右端開口一側(cè)正下方固定有落紗檢測管,粒度檢測儀固定在落紗檢測管的側(cè)壁上,用于檢測從導砂槽震落下來的砂粒的狀態(tài);在落紗檢測管正上方設(shè)置有一風機,用于對從導砂槽落下的砂粒進行加速。耐克特設(shè)備儀器與現(xiàn)有技術(shù)相比其有益效果是:耐克特納米粒度分析儀設(shè)備儀器結(jié)構(gòu)簡單,檢測的砂粒準確,同時從出砂槽中落下的砂粒間距均勻。耐克特設(shè)備儀器通過在落紗檢測管上方增設(shè)一風機,加速了砂粒的落砂速度,減小了砂粒在降落過程中重疊的現(xiàn)象,提高了粒度檢測的準確性。
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