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通過X射線衍射（XRD），納米粒度儀（PSA），掃描電子顯微鏡（SEM）和UV-可見分光光度計(jì)表征合成的產(chǎn)物。 XRD圖譜證實(shí)了合成樣品的四方結(jié)構(gòu)。使用Debye-Scherrer公式從X射線譜展寬確定合成的納米顆粒的平均微晶尺寸。隨著煅燒溫度從300℃升高到800℃，微晶尺寸在8到33nm之間變化。與未摻雜的TiO 2相比，摻入3至5％Ag +代替Ti 4+引起納米晶體尺寸的減小。 SEM顯微照片顯示顆粒的團(tuán)聚球形形態(tài)。 SEM，PSA和XRD測(cè)量顯示粉末的顆粒尺寸為納米級(jí)。光學(xué)吸收測(cè)量表明在銀摻雜時(shí)吸收帶邊緣發(fā)生紅移。通過UV-Vis光譜儀測(cè)量的未摻雜和Ag摻雜的TiO 2納米顆粒的直接允許帶隙在500℃下分別為3.00和2.80eV。通過溶膠 - 凝膠法合成未摻雜和摻雜銀的TiO 2納米顆粒。

公司擁有一批從事電子工程開發(fā)、研究和機(jī)械自動(dòng)化控制設(shè)計(jì)、制造的專業(yè)技術(shù)人才，專業(yè)基礎(chǔ)扎實(shí)，軟件開發(fā)、硬件制作精益求精。在追求不斷創(chuàng)新的同時(shí)，更加注重“質(zhì)量至上，誠信服務(wù)”，對(duì)各種行業(yè)的粉體材料，積累了豐富的分析測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，在粉體粒度檢測(cè)領(lǐng)域取得了輝煌的業(yè)績。
公司生產(chǎn)的JL系列激光粒度測(cè)試儀，參照ISO13320等國際標(biāo)準(zhǔn)、全量程米氏散射理論原理，于1990年首獲國家專利， 1992年經(jīng)中國測(cè)試研究院檢定合格，1993年中國顆粒測(cè)試專業(yè)委員會(huì)測(cè)試評(píng)定合格，現(xiàn)有粉體粒度測(cè)試專有專利技術(shù)20多項(xiàng)。在歷屆全國粒度儀量值比對(duì)活動(dòng)中，成都精新JL系列激光粒度儀、顆粒圖像分析儀均獲得最優(yōu)A級(jí)，在國內(nèi)外市場(chǎng)享有盛譽(yù)，測(cè)試精度達(dá)到國外同類儀器測(cè)量水平。